AMETEK 3050OLV石英晶体露点仪

AMETEK 3050-OLV石英晶体露点仪是用来测量过程气体流中的微量水份浓度。 3050-OLV 可以测量氦、氩、氖、氙、氪、氧、氢、氮、一氧化氮、一氧化碳、二氧化碳、氢烷烃、天然气、致冷剂、空气以及特种气体，参见表1.1 的气体列表。分析仪测量水份含量可从1 到2500ppmv。数据输出可采用ppmv、ppmw、露点摄氏温度、露点华氏温度、Ib/mmscf 和mg/Nm3 作为单位。

AMETEK 3050-OLV石英晶体露点仪 的核心部分是对水份敏感的石英晶体微平衡(QCM)传感器。QCM 水份传感器简单来说是石英晶体振荡器,其中的石英晶体表面涂有吸湿涂层。该涂层选择性可逆吸收样品气流中的水份。当该晶体暴露于含气态水份的气流中时,吸湿涂层吸收气流中的水份,从而涂层的质量改变。质量的改变通过传感器的固有振动频率的改变而检测出来。

AMETEK 3050OLV石英晶体露点仪的普通操作方式下,QCM 传感器交互暴露于样品气体和干燥的参比气体中。通过使样品气体的一部分流过干燥器除去存在的水份来得到干燥的参比气体(即参比气体的水分小于0.025ppmv)。QCM 传感器暴露于两种气流后所测得的振动频率改变即是样品气体水份含量的代表。所以样品的水份即可通过频率改变测得。水份和测得的频率变化之间的校正数据储存于QCM 传感器组件中的EEPROM 内。

◆3050型水分仪是一种在线式，体积小，价格低，性能可靠快速响应，唯一采用可在线校验的石英晶体传感器，对水分含量进行精确测量的分析仪器。对用户友好的硬件和软件
◆3050型使用了AMETEK成熟的技术
◆独有的在线校验
◆量程宽广－可在0．1－2500ppmV的范围进行测量
◆内部诊断
。传感器监测污染情况
。监测干燥器的寿命监测水分发生器的寿命

AMETEK 3050OLV石英晶体露点仪技术参数:
测量原理：石英晶体
测量范围：0.1-2500ppm
精度：读数的±10%
灵敏度：读数的1%
小检测限：0.1ppm
系统响应时间：t63﹤5分钟
检测器响应时间：实时
适用防爆区：class 1, division 2或division 1
防护等*：mema 4x
在线标定：有
采样气体温度：0℃-100℃
输出：4-20mA
电源需求：
分析仪： 24 VDC, 50 W
采样系统：
小120 ±10% VAC, 50/60 Hz, 150 W
230 ±10% VAC, 50/60 Hz, 150 W
允许进口压力：
规范1.3Bar-3.3Bar（20psi-50psi）,高于200bar（3000psi）可加减压阀
排气压力：0-1Bar（0-15psi）

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