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晶体振荡露点仪技术简介

日期:2017-12-13 作者: 来源: 浏览:

 晶体振荡露点仪技术简介

在很多过程工艺中,客户更加关心水分含量ppmV,例如催化重整装置。晶体振荡露点仪技术直接测量气体中的水分ppmV含量。
石英晶体微平衡技术(QCM)是基于测量在样气中的石英晶体的振荡频率。下图是一个典型的晶体的结构:

 

感湿石英晶体
对于标准的晶体而言,其震荡频率并不会对水汽产生响应。QCM微水测量技术在黄金电 表面涂布一种聚合物。聚合物涂层的特性是可以快速吸收水汽或者释放水汽而干燥。重要的是,作为聚合物涂层吸收水汽的结果,石英晶体的质量会增加,因而晶体的振荡频率会发生变化。
TIM截图20171213112944.png
相反,当聚合物涂层干燥的时候,晶体的质量减少,其振荡频率增加。
 
为了测量被吸收水汽,将传感器(聚合物涂层的晶体)置于恒温的测量腔室,通过的样气流量稳定在100毫升/分钟。测量周期分为两个阶段。起初,干燥后的样气经过传感器测量腔室,测量此时石英晶体的振荡频率。随后,未经干燥的样气通过测量室,再次测量晶体的振荡频率。
 
对应干气和湿气的频率之差与样气中的水汽含量成比例关系。每个周期中,通过干气和湿气的时间各为30秒,如果改变这个时间关系,则会影响仪器的校验。
 
在实际运用中,为了补偿外部温度等因素造成的影响,测量腔室中安置了两个完 相同的晶体。一个是有聚合物涂层,而另外一个没有涂层的作为参考晶体。在每个测量周期,无论是干气还是湿气,测量晶体和参考晶体的输出频率经过混合,过滤,除去所有不相关的频率,得到了两者之间的差值(fr- fs)。由于这两个晶体完 相同,所有外部因素和内部干扰对两者的影响都是完 同等的,这样,所有可能干扰晶体频率的因素(温度、老化等),在fr- fs 值中都被完 去除了。气体回路包括分子筛干燥筒,湿度发生器,以及采样模块;采样模块包含三个用于流量控制的电磁阀,以及安置了测量晶体和参考晶体的测量腔室。测量振荡器和参考振荡器位于测量模块的末端。整个测量腔室恒温在60°C。下图是一个测量流路图示。
露点仪流程图.png
干气流经V1, 湿气(样气)流经V3,湿度发生器产生5~10ppmV的校验气经过V2,每个流路的流量稳定在100毫升/分钟。各路气体轮流进入测量腔室,或者被直接排空。

 



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